• Портативный магнитный дефектоскоп Parker DA-750

Портативный магнитный дефектоскоп Parker DA-750

0.00
  • Код товара: DA 750
  • Доступность: На складе
  • Цена: По запросу



Магнитный дефектоскоп Parker DA-750 обеспечивает эффективную диагностику деталей и оборудования с большими площадями контролируемых поверхностей.
 
Магнитный дефектоскоп Parker DA-750 обладает способностью вырабатывать выпрямленные и переменные поля большой мощности. Изменения параметров выходного тока, на которые влияют длина и поперечное сечение кабеля, выводятся на амперметр, находящийся на передней панели прибора. Дефектоскоп работает на основе циркулярного намагничивания, которое вырабатывается в результате прохождения электрического тока сквозь деталь.
 
Выбор размера контролируемого поля зависит от величины тока и от места контакта кабелей. Выходной ток варьируется от 0,1A до максимума с помощью переключателя на передней панели и контролируется на стрелочном амперметре. Вообще, выходной ток определяется размером и длиной кабеля. Магнитное поле определяет лучшую чувствительность для обнаружения поверхностных дефектов. Не требует размагничивания.
 
Спецификация
 
Длина
44.5 см
Ширина
23 см
Высота
19.8 см
Максимальный выход при использовании двух кабелей
До 750 А
Питание
230 В, 50/60 Гц
Максимальное время цикла
2 мин вкл
2 мин выкл
Вес
15.9 кг
 

Нет отзывов об этом товаре.

Написать отзыв

Внимание: HTML не поддерживается! Используйте обычный текст!
Captcha

Рекомендуемые товары

Анемометр testo 410-1 (Pocket line)
Анемометр testo 410-1 (Pocket line)

Pocket line - профессиональные измерительные приборы карманного размера. testo 410-1; анемометр..

Цена: По запросу

Дефектоскоп магнитопорошковый МД-12ПШ
Дефектоскоп магнитопорошковый МД-12ПШ

Магнитопорошковый дефектоскоп МД-12ПШ Обеспечивает высококачественный неразрушающий контроль..

Цена: По запросу

Логгер TESTOSTOR 171-6
Логгер TESTOSTOR 171-6

testostor 171-6, логгер данных влажности (для измерений %ОВ, °C, °Cтр), вкл. магнит для запуска, ..

Цена: По запросу

Оборудование для пробоподготовки микроэлектронных образцов TargetSystem
Оборудование для пробоподготовки микроэлектронных образцов TargetSystem

Используется для автоматической подготовки до любых видимых или скрытых целей или дефектов ..

Цена: По запросу