• Досмотровые зеркала «ПОИСК-МГ», «ПОИСК-МГ-35», «ПОИСК-МГ-50»

Досмотровые зеркала «ПОИСК-МГ», «ПОИСК-МГ-35», «ПОИСК-МГ-50»

0.00
  • Код товара: ПОИСК-МГ, ПОИСК-МГ-35, ПОИСК-МГ-50
  • Доступность: На складе
  • Цена: По запросу



Досмотровые устройства предназначены для досмотра труднодоступных мест в условиях малой освещенности и полной темноты.

Досмотр осуществляется с помощью малого поворотного зеркала, жестко закрепленного на миниатюрной телескопической штанге. Наклон зеркала изменяется на 210о от начального положения ("Поиск-МГ"). Устройства "Поиск-МГ-35" и "Поиск-МГ-50" представляют собой гибкую штангу, с одной стороны которой находятся изменяющее свой наклон зеркало и лампочка подсветки. Включение и выключение лампочки производится небольшим поворотом заглушки в рукоятке штанги, являющейся батарейным отсеком.
 
Технические характеристики
 
 
Поиск-МГ
Поиск-МГ-35
Поиск-МГ-50
Диаметр зеркала,мм
34
35
50
Максимальная длина с выдвинутой штангой, мм
600
500
500
Электропитание: два элемента А-316 (Mignon; R6; AA; UM3), В
3
3
3
 

Нет отзывов об этом товаре.

Написать отзыв

Внимание: HTML не поддерживается! Используйте обычный текст!
Captcha

Рекомендуемые товары

Очиститель SHERWIN  N-120, низкотемпературный набор до -30°С (красно-белый метод)
Очиститель SHERWIN N-120, низкотемпературный набор до -30°С (красно-белый метод)

Низкотемпературный очиститель Sherwin N-120 это сильная универсальная смесь, созданная для..

Цена: По запросу

Алмазный индентор для твердомера TH300
Алмазный индентор для твердомера TH300

  Алмазный индентор для стационарного твердомера TH300 (короткий, длинный или плоский). В ..

Цена: По запросу

Плоскопанельный детектор PaxScan 3030X, 40-150 кВ, съемка в реальном времени
Плоскопанельный детектор PaxScan 3030X, 40-150 кВ, съемка в реальном времени

Цифровой плоскопанельный детектор PaxScan 3030X компании Varex Imaging (версия 3) позволяет визуализ..

Цена: По запросу

Термоэлектрический дефнктоскоп ТЕС-364М
Термоэлектрический дефнктоскоп ТЕС-364М

Портативный прибор для контроля структурного состояния поверх-ностного слоясталей, связанного с х..

Цена: По запросу