• Термоэлектрический дефнктоскоп ТЕС-364М

Термоэлектрический дефнктоскоп ТЕС-364М

0.00
  • Код товара: ТЕС-364М
  • Доступность: На складе
  • Цена: По запросу



Портативный прибор для контроля структурного состояния поверх-ностного слоясталей, связанного с хим. составом, термообработкой, поверхностно-упрочненными слоями, толщиной гальванических проводящих покрытий.

Основные области применения:
  • Рассортировка металлов помаркам.
  • Контроль толщины упрочненныхслоев(алитирование на лопатках турбин ит.д.).
  • Контроль толщиныгальвани-ческого никеля.
  • Контроль структурной неоднородности в сварных швах.
Технически характеристики
 
Разрешение при определении термо-ЭДС
до 5 мкВ.
Локальность контролируемого участка:
1,5 х 1,5 мм.
Температура зоны контакта наконечникадатчика и поверхности контролируемогоизделия:
100 С°.
Время подготовки к работе:
не более 1 мин.
Пороговая сигнализация:
настраиваемая.
Подсветка дисплея:
настраиваемая.
Питание сетевое адаптер
220–12 В (в комплекте).
Питание аккумуляторное:
по требованию
Гарантийныйсрок обслуживания прибора
12 месяцев
 

Нет отзывов об этом товаре.

Написать отзыв

Внимание: HTML не поддерживается! Используйте обычный текст!
Captcha

Рекомендуемые товары

Плоскопанельный детектор PaxScan 2530DX, 40 - 160 кВп, до 32 к/с
Плоскопанельный детектор PaxScan 2530DX, 40 - 160 кВп, до 32 к/с

Плоскопанельный детектор PaxScan 2530DX компании Varex Imaging обеспечивает высокое качество изображ..

Цена: По запросу

Милливольтметр для измерения температуры Ш4540/1 / Ш4540
Милливольтметр для измерения температуры Ш4540/1 / Ш4540

Милливольтметр Ш4540/1 предназначен для измерения температуры различных объектов машиностроительн..

Цена: По запросу

Динамический твердомер ТВМ 1500
Динамический твердомер ТВМ 1500

Динамический твердомер ТВМ 1500 со встроенным датчиком для экспресс измерения твердости по шкал..

Цена: По запросу

Тепловизор FLIR T660
Тепловизор FLIR T660

Компания «НК Инновации» предлагает своим клиентам купить тепловизор Flir t660 по доступной цене. ..

Цена: По запросу