• Течеискатель Hellophone

Течеискатель Hellophone

0.00
  • Код товара: Hellophone
  • Доступность: На складе
  • Цена: По запросу



Обнаружения утечек сжатого газа, жидкостей (в т.ч. вязких) из мелких отверстий (свищей) в трубопроводах и резервуарах.
 
Течеискатель Hellophone предназначен для:
  • Обнаружения утечек сжатого газа, жидкостей (в т.ч. вязких) из мелких отверстий (свищей) в трубопроводах и резервуарах
  • Контроль запорной арматуры (вентилей, клапанов и т.д.) в работающих объектах
  • Контроль герметичности уплотнений и сварных швов, не создавая избыточного давления (при использовании УЗ-генератора)
  • Обнаружение незначительных электрических разрядов в дефектных контактах в электроустановках
 
Комплект поставки
  • УЗ-прибор с аккумуляторным электропитания
  • Ультразвуковой генератор
  • Зарядное устройство
  • Наушники
  • Водонепроницаемый зонд для твердых тел
  • Зонд корпусного звука
  • Воздушно ультразвуковой зонд
Технические данные
  • Измерительная частота: 40кГц-1кГц
  • Цифровой дисплей LCD
  • Сохранение мax- величины
  • Встроенный аккумулятор (10 час. работы)
  • Габариты: 120х65х25 (генератор) 195х100х40 (приемник)
  • Масса комплекта с чемоданом: 3,6кг

Нет отзывов об этом товаре.

Написать отзыв

Внимание: HTML не поддерживается! Используйте обычный текст!
Captcha

Рекомендуемые товары

Проявочная машина DUERR XR 35 NDT Mobile
Проявочная машина DUERR XR 35 NDT Mobile

Автоматическая проявочная машина XR 35 NDT разработана специально для мобильного использования при с..

880 000 р.

Плоскопанельный детектор PaxScan 1616DXT, 40 - 150 кВ, до 94 к/с
Плоскопанельный детектор PaxScan 1616DXT, 40 - 150 кВ, до 94 к/с

Плоскопанельный детектор PaxScan 1616DXT компании Varex Imaging обеспечивает высокое качество изобра..

Цена: По запросу

Тепловизор FLIR E4
Тепловизор FLIR E4

Тепловизор FLIR E4 производства шведской компании FLIR Systems AB используется для визуального на..

Цена: По запросу

Термоэлектрический дефнктоскоп ТЕС-364М
Термоэлектрический дефнктоскоп ТЕС-364М

Портативный прибор для контроля структурного состояния поверх-ностного слоясталей, связанного с х..

Цена: По запросу