• Жесткие эндоскопы ЭТЖ

Жесткие эндоскопы ЭТЖ

0.00
  • Код товара: ЭТЖ
  • Доступность: На складе
  • Цена: По запросу



Предназначены для визуального контроля полостей, щелей, глубоких отверстий или пространств за преградами к которым возможен прямолинейный доступ через малоразмерные отверстия.

Изображение наблюдаемого объекта в бароскопах формируется оптической системой с комбинацией линз, благодаря чему формеруется изображение с исключительно высоким разрешением. Для освещения наблюдаемого объекта используется волоконно-оптический световод.
 
Комплектация изделия
  • Бороскоп.
  • Осветитель.
  • Зарядное устройство (только к БОА-20).
  • Упаковка-укладка.
  • ЗИП.
  • Паспорт.
  • Руководство по эксплуатации.
  • Опции
  • Фототелевизионный тракт
  • Блок осветительный- аккумуляторный БОА-20 с подсумком
  • Блок осветительный- сетевой БОС-100
  • Зарядное устройство
  • Упаковка-укладка в специальном исполнении
  • Длина просмотрового модуля может быть увеличена (спец. заказ)
Технические характеристики
 
Диаметр просмотрового модуля, мм
1.7, 5.5, 6.5, 8.5
Длина просмотрового модуля, не более мм
от 20 до 550
Угол поля зрения объектива, град
60
Пределы фокусировки объектива, мм
от 10
Диоптрийная регулировка окуляра, диоптр
± 4
Вид исполнения просмотрового модуля
жесткий
Угол направления наблюдения, град.
0, 35, 45, 75, 90.
Рабочее расстояние, не менее, мм
5
Масса не более, кг
0,5
Диапазон рабочих температур, ° С
от –5 до +45
 

Нет отзывов об этом товаре.

Написать отзыв

Внимание: HTML не поддерживается! Используйте обычный текст!
Captcha

Рекомендуемые товары

Eddyfi Technologies Inuktun Versatrax 150
Eddyfi Technologies Inuktun Versatrax 150

Специальная система, изготавливаемая на заказ Система Inuktun Versatrax 150™ производства компани..

Цена: По запросу

Твердомер Роквелла HR-150A
Твердомер Роквелла HR-150A

Стационарный твердомер Роквелла HR-150A - измеритель твердости с высокой точностью и широким ди..

Цена: По запросу

USM 25S
USM 25S

Малогабаритный дефектоскоп USM 25S используется для ультразвуковой диагностики сварных швов и основн..

Цена: По запросу

Оборудование для пробоподготовки микроэлектронных образцов TargetSystem
Оборудование для пробоподготовки микроэлектронных образцов TargetSystem

Используется для автоматической подготовки до любых видимых или скрытых целей или дефектов ..

Цена: По запросу